一、简介:

为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都

要先经过老化。在老化过程中进行功能测试的方

案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问

题。

    半导体、器件随时可能因为各种原因而出现故障，老

化就是通过让半导体、器件进行超负荷工作而使缺陷在

短时间内出现，避免在使用早期发生故障。

    如果不经过老化，很多半导体产品由于器件和制造工

艺复杂性等原因在使用中会产生很多问题。在开始使用

后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造工艺的

成熟程度和器件总体结构)称为早期故障， 老化之后的

器件基本上要求100%通过这段时间。

 一般来讲，老化工艺通过工作环境和电气性能，两方

面对半导体器件进行苛刻的试验使故障尽早出现，典型

的半导体寿命曲线如下图所示：

由图可见，主要故障都出现在器件寿命周期开始和最后

的十分之一阶段。老化就是加快器件在其寿命前10%部

分的运行过程，迫使早期故障在更短的时间内出现，通

常是几小时而不用几月或几年。不是所有的半导体生产

厂商对所有器件都需要进行老化，普通器件制造由于对

生产工艺比较了解，因此可以预先掌握经过统计得出的

失效预计值。如果实际故障率高于预期值，就需要再作

老化，提高实际可靠性以满足用户的要求。