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 声检查应选用双晶直探头。 6.  在荧光屏制造距离一波幅曲线     在荧光屏上制造距离一波幅曲线，应分外留心基准波高不要选得过高，zui大勘探距离处的曲线(波高)方位不得过低，假定上述两条央求不能一同满足，可以从头选择超声波探头，也可以分段制造距离一波幅曲线。     实习制造时，基准波高一般选择为荧光屏满刻度的60%～80%。全跨距探伤时，深度为工件厚度2倍的孔的反射波幅zui好不低于荧光屏满刻度的40%，zui少应不低于荧光屏满刻度的20%。由于曲线方位太高或太低，将超出仪器的线性动态规划，检查的线性变差，对缺陷的定性、定量带来很大的不判定度，且波幅过低时，探头扫查过程中的回波动态改动不易查询到，简略致使缺陷漏检。 7.  全波不见法的概念     ASME—V篇是以荧光屏满刻度5%作为全波不见和存在的界限值。本标准选用ASME的界说，清楚规矩全波不见法是指在某一当量灵敏度条件下，运用底波或缺陷回波降至荧光屏满刻度5%以下作为全波不见的界限值，来判定缺陷是不是存在和判定缺陷标准大小的检查方法。 8.  进行校验时，抑制或滤波开关的运用     抑制和滤波开关的调度首要是绑缚检波后缺陷信号的输出凹凸和改动规划，然后抑制或滤去较小的杂波信号。由于上述开关都是非线性的，因此，一经运用则致使主信号波形改动、笔直线性变坏，动态规划变小，线性区域改动，将严重影响校核、复核和线性查验效果，并构成缺陷差异失误。因此，JB/T 4730标准规矩进行超声校准、复核和线性校验时，应将抑制、滤波开关等置于“关’’的方位或处于zui低水平上。
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