阻抗分析仪,IM3570,IM3570分析仪 赛秘尔供HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查阻抗分析仪,IM3570,IM3570分析仪 赛秘尔供HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查基本精度± %的高精度测量分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q测量量程显示范围θ：±（ °~ °），D：±（ 000~ ）基本精度测量频率测量信号电平50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）CC模式（普通模式）10μA~10mA rms，10μA rms步进（ 以上）普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω彩色 英寸，可设置显示ON/OFF测量时间测量速度DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN电源拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）GP-IB，RS-232C， (所有标准)电源330W×119H×307Dmm， 附件电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1
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