回收吉时利（KEITHLEY)2612B源表
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2600B系列数字源表源测量单元 （SMU）仪表设计支持对各种负载使用 两种操作模式。在普通模式下，源测 量单元（SMU）仪表为最da吞吐量提供 高带宽性能。在高电容模式下，源测 量单元（SMU）仪表使用较慢的带宽， 为较高电容负载提供鲁棒的性能。


典型应用


各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：


分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC
– 射频集成电路（RFIC）
– 专用集成电路（ASIC）
– 片上系统（SOC）器件
光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
更多…


简化半导体元件测试、验证与分析


可选配的ACS Basic版本软件实现了客户效率的最da化，使客户可以在开发、质量认证或故障分析中，对封装器件进行特性分析。主要特性包括：


内容丰富、易于访问的测试库
脚本编辑器，实现现有测试的快速定制
数据工具，便于迅速比较测试结果


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