深圳市谷易电子有限公司
主营产品:芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组
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3215-2pin贴片晶振测试座 翻盖探针老化座
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产品介绍
3.2×1.5-2PIN晶振探针老化座/测试座 (通孔焊接型) 产品简介 一、产品用途:老化座、测试座,对3215(3.2*1.5mm)的晶振IC进行高低温老化测试 二、适用封装: 3215(3.2*1.5mm)-2PIN贴片晶振 三、探针结构,接触稳定、体积小。 四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 五、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度,使用寿命(翻盖结构20000次) 六、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD档