EX-3000,萤光,,X线膜厚计
EX-3000,萤光,X线膜厚计
●中文视窗操作测量系统
●解析度 μm
●最小测量面积 ø,
●可测量合金层之厚度和组成比例
●可测量2层以上镀层之个别厚度
●藉由光谱分析可判定被测物之元素
●适用对象：IC导线架、封装业PCB业、精密零件业电镀业、电子业COSMOS-2X,萤光,X线膜厚计
●中文视窗操作测量系统
●解析度 μm
●最小测量面积 ø,
●可测量合金层之厚度和组成比例
●可测量2层以上镀层之个别厚度
●藉由光谱分析可判定被测物之元素
●适用对象：IC导线架、封装业PCB业、精密零件业电镀业、电子业
BTC-221,非破坏膜厚仪
●电脑视窗操作系统
●解析度 μm
●最小测量面积 ø,
●可测量合金层之厚度和组成比例
●可测量各种镀层或非金属之膜厚
●适用对象：PC板业装饰品业精密零件业