SENTECH,’,Reflectometer,RM能够在UV-VIS-NIR光谱范围对单层膜、多层膜和基底材料进行高精度反射光谱测量。可对吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率,

关键特性:,
?,高精度反射率测量,非接触,正入射光,
?,宽光谱范围,可从,UV至NIR,
?,测量反射率曲线R,,薄膜厚度,折射率,
?,FTPexpert,软件,用于测量薄膜的光学参数,
?,测量半导体混合物的组分,(例如：,AlGaN,on,GaN),
?,分析各向异性薄膜