薄膜电容的损耗是与制造工艺有关的，卷绕错边与喷金工艺的设定是如何造成薄膜电容损耗问题了，本文根据这两个问题展开了探讨，希望本文的内容可以帮助到大家！ 金属化薄膜电容器芯子的端面要喷涂上金属（一般为锌、锌锡合金），电容器的外引出线（一般为镀锡铜包钢线）就焊合到电容器芯子端面的金属上（喷金层），这样电容器的接触损耗主要就是两个方面。一是薄膜电容器芯子端面和金属层之间的接触质量；二是电容器的引出线与金属层之间的接触质量。为了降低薄膜电容器的接触损耗，应从以下方面着手。 电容器芯子端面和金属层之间的接触质量，即金属层与电容器芯子的附着质量。 1）卷绕错边，根据电容器的品种、电容量、额定电压选取适当的材料，金属化薄膜电容器选取适当的金属化薄膜，电容器在卷绕时要选取适当的材料错边，如果错边较小，电容器芯子端面在喷涂金属时，金厲颗粒就会喷到芯子内部，造成电容器短踣，如果错边过大，电容器芯子端面的金属层附近不牢，影响电容器的高频损耗。 2）喷金工艺设定 电容器的喷金工序是重要的工序，喷金工艺参数设定不好，直接影响产品质量，它会造成电容器芯子的短黯、芼子端面的金属层与芯子附着力不好，从而造成薄膜电容器高频损耗增大。我们用正交试骏法进行了试验，确定了电容器喷金工序的工艺参数。 如您还有其它技术上的疑问可联系我们，我们竭力为您解决。东莞市智旭电子制造安规电容，高压薄膜电容，独石电容，压敏电阻，薄膜电容，更多品质电容尽在JEC。可以免费提供样品测试，期待您的莅临。以上资讯来自东莞市智旭电子有限公司研发部提供，更多资讯请大家移步至网站中智旭资讯中获取。