深圳市谷易电子有限公司带您了解江苏产品老化测试多少钱,随着当前集成电路特征尺寸不断减小,在带来频率功耗等性能的提升的同时,一些严重的电路可靠性题也逐渐显现。其中负偏置温度不稳定性(Negative Bias Temperature Instability, NBTI)因为会显著导致PMOS的栅极阈值电压上升,被认为是产生电路老化现象的主要物理效应之一。在极端的模型中,在10年内由NBTI效应导致的电路时延增长量预测值为20%。通过减轻NBTI,可以有效缓解集成电路的老化效应,提高集成电路的可靠性。逻辑门的输入状态会对电路的老化效应产生直接影响,因而集成电路待机模式下的输入矢量也会对电路的老化状态有很大影响,本文由此提出一种基于门故障插入的输入矢量控制方法。首先,根据逻辑门所经过的关键路径数量的不同,在整个电路中先提取出对老化效应影响较大的关键逻辑门,避免了对整个电路进行抗老化防护带来的过大的额外面积和功耗开销。

atpg方法的优点在于测试时间短，不需要进行大量的测试工作。atpg是一种可以用于电子设备的全扫描电路。atpg是一种率、低成本、高性能的压力测试方法。这项技术使得动态老化测试期间，电子设备可以通过压力来检验电子设备。它不需要对每个节点进行任何处理。atpg测试的电路可以用于动态老化测试。atpg的工作原理是将电子设备分成三个部分，其中一个部分由一组数字组成；另外两个部分由三组数字组成。每个数字之间都有相应的参考线，如图2所示。这种模式使得压力测量和动态老化测试结合在一起。这样就不需要对压力进行大量的检验。

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