ST2253数字式四探针电阻率测试仪|苏州供应的ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪， 苏州晶格电子近年来花费大笔资金，用于提升公司产品的生产技术，目的在于使公司的ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪能够与用户的需求地结合。我司在2010-04-06成立，领导人在电工仪器仪表从事多年，有着非凡的眼光和丰富的市场经验。通过与不同的用户接触充分地了解顾客所需要的产品应当具备何种性能，以及市场上目前产品所存在的缺陷。结合着顾客反馈的意见以及市场调查的结果我司对ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪进行升级，目前ST2253带电脑软件四探针电阻率测试仪在全国销量异常火爆，产品几度供不应求。

的ST2253数字式四探针电阻率测试仪，2.1基本功能和依据标准： ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.3优势特征： 1) 带电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。荣获专利权作品，专利号：软著登字第号 2) USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！ 3) 8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。 4) 可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体。 5) 操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码开关输入，简便可靠而且免除模拟电位器式的不稳定易受干扰。 2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》 1) 配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 2) 配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。 3) 配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。 4) 换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。 2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表 四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。 二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台. 平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

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