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因此该设备可以在生产过程中提高工作效率。目前已经应用到国内外多个领域。该设备还可以用于测试电子元器件的失效现象及时诊断。该设备采用了水平较高的计算机控制技术和分析程序，能够对产品进行测试并对其失效原因作出诊断。该设备可以用来检测产品的各种失效现象及时发现、诊断。芯片失效分析设备是通过对不同芯片的测试分析来评估芯片失误现象的。在生产过程中使用失效分析技术能够评价芯片故障现象。在芯片故障现象中，可以通过分析芯片的工作状态，从而判断出是否存在题。这些分析结果能够为设计人员提供对不同芯片的测试方法、测量方法及其相应的技术参数。

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