苏州晶格电子有限公司
主营产品:四探针测试仪,电阻率测试仪,方块电阻测试仪,粉末电阻率测试仪,土壤电阻率测试仪
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M3手持式四探针测试仪
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产品介绍
2.1基本功能和依据标准: M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2配套组成:标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台当台式机使用。 2.3优势特征: 1美观适用:彩色流线型手持式面板、带防滑垫,符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包装,便于野外或旅行使用。 2高精度:带完善厚度、形状修正功能,测试精准。同行中手持式多为简易程序,没有完整修正功能,无法修正误差。 3宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程,同行中手持式多为两到三个档位,测试范围有限,适应性不广。 4操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。 5手动/自动一体化: 6显示方式美观清晰:由高亮绿色数码和LED数字表头显示,不怕环境背景暗或野外强光; 7待机和工作时间长(不小于两天),有大容量可充电锂电池电池供电,环保耐用。 2.4探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》 1配高耐磨的碳化钨探针探头,如ST2253-F01型,以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻; 2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头,如ST2558B-F01型,可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。 3配专用箔上涂层探头,如ST2558B-F02型,也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。 4换上四端子测试夹具,还可对电阻器的体电阻进行测量。