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冲击试样缺口投影仪
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ICM射线机CP120B-160B_chinese_V1.5
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冲击试样缺口投影仪
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产品介绍
CST-50冲击试样缺口投影仪原理 本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。 根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向一致。
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